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PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统

PicoFemto NI-100 SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中,使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。SEM纳米力测量系统价格请咨询18817557412(微信同号)

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    PicoFemto NI-100 SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中,使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。该系统由一个三维压电驱动的样品台和一个纳米力测量探针组成。样品安装方式灵活多样,可在三维纳米位移台的驱动下,达到超过5 mm的准确定位,定位分辨率优于100 nm,以使待测量区域准确对准力探针。

    力探针同样由压电驱动,在轴向达到100 um的伸缩长度,位移分辨率优于0.25mm。由力传感器准确测量所施加的力的载荷,可测拉力和压力。并有不同的大量程的力传感器可选配,达到很好的测量效果。通过搭配电学、光学、加热等模块,该产品还可以实现包括原位力/热耦合、力/光耦合、力/电耦合、力/热/晶体取向耦合等多场耦合研究。

    PicoFemto NI-100 SEM纳米力测量系统基本技术参数表

    扫描电镜SEM纳米力测量系统(图1)

    部分国内用户

    部分国内用户.jpg

    部分国外用户

    部分国外用户.png

    以上就是威尼斯wns8885556对PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统的介绍,关于价格请咨询15756003283(微信同号)

    ZEM15原位拉伸-扫描电镜(图7)

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